Patent Citation Networks Anticipate Technology Lock-In Risk: Multimodal Evidence from China’s Semiconductor Industry
本研究は、特許引用ネットワークの構造が、従来のパフォーマンス指標が悪化する前に中国の半導体産業における技術的ロックインのリスクを効果的に予測できることを示しており、特に大規模な特許保有主体に対する早期警告スクリーニングツールとして機能する「技術的ロックイン・リスク指数(TLRI)」の開発を可能にするものである。